Fabricarea PCB-urilor de testare ATE cu 24 de straturi

Fabricarea PCB de testare ATE cu 24 de straturi pentru testarea semiconductorilor

Fabricarea PCB a plăcii de testare ATE cu 24 de straturi este una dintre tehnologiile de bază în domeniul echipamentelor de testare automată a semiconductorilor, oferind o bază solidă pentru asigurarea calității și performanței cipurilor high-end.

Descriere

24 de straturi ATE Test Board PCB Manufacturing

Fabricarea PCB a plăcii de testare ATE cu 24 de straturi utilizează un substrat Shengyi S1000-2M de înaltă calitate și un proces de placare cu aur gros, cu un diametru minim de trecere de 0,4 mm, îndeplinind nevoile de transmisie a semnalului de mare densitate și viteză și făcându-l ideal pentru mediile de testare a semiconductorilor exigente.

Caracteristicile principale ale fabricării PCB a plăcii de testare ATE cu 24 de straturi

  • Structură ultra-multistratificată:Cu 24 de straturi conductoare, placa realizează interconexiuni complexe de circuite și o izolare eficientă a semnalului prin stivuire multistrat, asigurând integritatea semnalului și compatibilitatea electromagnetică.
  • Tehnologie HDI avansată:Suportă tehnici de interconectare de înaltă densitate prin căi îngropate și oarbe, îmbunătățind densitatea cablajelor și fiabilitatea PCB.
  • Materiale high-end și proces de aur gros:Utilizează substrat Shengyi S1000-2M și tratament de suprafață cu aur gros, oferind conductivitate excelentă, rezistență la uzură și rezistență la coroziune pentru teste repetate pe termen lung.
  • Producție de înaltă precizie:Diametrul minim al străpungerii este de 0,4 mm, potrivit pentru asamblarea cu pas fin, de înaltă precizie, îndeplinind cerințele de testare a IC de generație următoare.
  • Stabilitate și fiabilitate puternice:Proiectat special pentru medii de testare de înaltă intensitate și de lungă durată, asigurând precizia datelor de testare și funcționarea stabilă pe termen lung a plăcii.

Aplicații principale

  • Utilizat în sistemele de testare a semiconductorilor, cum ar fi echipamentele de testare automată a circuitelor integrate (ATE), manipulatoarele de testare a cipurilor, cardurile sondă și soclurile de testare.
  • Potrivit pentru scenarii de testare la cerere ridicată, cum ar fi testarea funcției IC, evaluarea performanței și testarea îmbătrânirii.
  • Aplicat pe scară largă în cercetarea și dezvoltarea semiconductorilor, în linii avansate de ambalare și testare și în controlul calității producției de masă, unde sunt necesare frecvență ridicată, viteză ridicată, precizie ridicată și fiabilitate ridicată.